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        技術文章

        使用接觸角測量法測量表面清潔度確實更可行

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        測量表面清潔度的方法多種多樣,例如:基于熒光分析法或基于X 射線的方法,然而這些方法的缺點也很明顯,包括限制對某些類型的污染的驗證、傳感器的距離對結果產生的結果較大、器昂貴及測量成本高。相比之下,接觸角測量法在測量表面清潔度方面提供了更可行的解決方案。

        接觸角測量法是一種即使在最小污染方面也能實現高靈敏度方法。根據 Young 方程,液滴在固體表面的形狀取決于液體的表面張力和樣品表面的表面能。不溶性污染(油脂、油等)會形成低表面能的表面,從而產生更大的接觸角。有界面活性的污染物(表面活性劑等)會溶解在液滴中,導致表面張力下降,從而接觸角也會隨時間降低。

        該方法的優點是為您提供有關雜質(可溶性/不溶性)類型和位置的相關信息,并且易于應用。它是非破壞式的,可以使用移動式測量設備在任何地方執行。

        LCD系列表面清潔分析儀為美國科諾研制的行業性分析儀器,可在分析測試水滴在液晶屏、晶圓(Wafer)、芯片或PCB板表面的形成的角度值的基礎上,進而分析Plasma效果,是一種基于界面化學分析系統的表面清潔度測試系統。該儀器由主機和CAST™2.0水滴角分析軟件兩個部分組成。根據樣品臺移動方式不同,我們將主機分為自動(LCD1000A)、手動(LCD1000M)兩種。樣品臺尺寸及其控制行程可根據客戶要求定制。

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